Δύο άνθρωποι πήδηξαν τον φράχτη ασφαλείας ενός ερευνητικού αντιδραστήρα της GE Hitachi κοντά στο Σαν Φρανσίσκο, όπως ανακοίνωσε σήμερα η ρυθμιστική αρχή πυρηνικής ενέργειας των ΗΠΑ. Η συγκεκριμένη μονάδα είναι μια από τις ελάχιστες που χρησιμοποιούν ουράνιο υψηλού βαθμού εμπλουτισμού (καθαρό ουράνιο), ένα υλικό που θα μπορούσε να χρησιμοποιηθεί για την κατασκευή ατομικής βόμβας.
Οι εισβολείς πήδηξαν τον περιμετρικό φράχτη ασφαλείας στον αντιδραστήρα Βαλεσίτος, στην κομητεία Αλαμίντα, το απόγευμα της Τετάρτης. Η μονάδα αυτή απέχει περίπου 64 χιλιόμετρα ανατολικά του Σαν Φρανσίσκο, όπως αναφέρεται στον ιστότοπο της Nuclear Regulatory Commission (NRC), στην ανακοίνωση της υπηρεσίας για μια “απειλή ασφαλείας”.
Λίγο αργότερα, οι δύο άνδρες «βγήκαν από τον χώρο, όταν τους πλησίασαν οι άνδρες ασφαλείας» και κατόπιν τέθηκαν υπό κράτηση. Οι υπεύθυνοι της μονάδας ενημέρωσαν τις τοπικές και πολιτειακές αρχές για το συμβάν.
Στην ανακοίνωση της NRC δεν αναφέρεται ότι η μονάδα είναι από τις ελάχιστες που χρησιμοποιούν ουράνιο υψηλού βαθμού εμπλουτισμού (HEU). Τα εργοστάσια αυτά δέχονται πιέσεις για να αλλάξουν τα καύσιμά του σε ουράνιο χαμηλού βαθμού εμπλουτισμού (LEU), υλικού που δεν μπορεί να χρησιμοποιηθεί για την κατασκευή βόμβας.
Η NRC και η GE Hitach Nuclear (κοινοπραξία της General Electric Co με τη Hitachi Ltd) δεν απάντησαν άμεσα σε ερωτήσεις για το πόσο HEU χρησιμοποιείται στη συγκεκριμένη μονάδα. Δεν είναι επίσης σαφές πόσο σοβαρό ήταν το συμβάν όσον αφορά την ασφάλεια, ωστόσο «υπογραμμίζει τον κίνδυνο που θέτουν οι πυρηνικοί αντιδραστήρες που τροφοδοτούνται με υλικά ικανά να χρησιμοποιηθούν για βόμβες, όπως είναι το HEU», σημείωσε ο επιστήμονας Έντουιν Λάιμαν. «Αυτοί οι αντιδραστήρες θα πρέπει να τροποποιηθούν για να χρησιμοποιούν πιο ασφαλή καύσιμα ή να κλείσουν», πρόσθεσε.
Σε μια επιστολή του προς την NRC τον Απρίλιο ο Τζέφρι Σμάλι, διευθυντής της GE στον τομέα συμμόρφωσης προς τους ρυθμιστικούς κανονισμούς, ανέφερε ότι το υπουργείο Ενέργειας δεν διαθέτει πόρους για να μετατραπεί το καύσιμο του αντιδραστήρα σε LEU.
(Φωτογραφία Αρχείου)